Seiji Kajihara,: шукати на сайті Z-Library

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (100)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

[IEEE 2019 IEEE 24th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC) - Kyoto, Japan (2019.12.1-2019.12.3)] 2019 IEEE 24th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC) - On-Chip Delay Measurement for In-Field Test of FPGAs

Miyake, Yousuke, Sato, Yasuo, Kajihara, Seiji

Рік:

2019

Файл:

PDF, 622 KB

2019

High-Precision PLL Delay Matrix With Overclocking and Double Data Rate for Accurate FPGA Time-to-Digital Converters

Chen, Poki, Lan, Jian-Ting, Wang, Ruei-Ting, Qui, Nguyen My, Marquez, John Carl Joel S., Kajihara, Seiji, Miyake, Yousuke

Журнал:

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

Рік:

2020

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.11 MB

english, 2020

Low Capture Switching Activity Test Generation for Reducing IR-Drop in At-Speed Scan Testing

Xiaoqing Wen, Kohei Miyase, Tatsuya Suzuki, Seiji Kajihara, Laung-Terng Wang, Kewal K. Saluja, Kozo Kinoshita

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 339 KB

english, 2008

Gene duplication and genetic exchange drive the evolution of S-RNase-based self-incompatibility in Petunia

Kubo, Ken-ichi, Paape, Timothy, Hatakeyama, Masaomi, Entani, Tetsuyuki, Takara, Akie, Kajihara, Kie, Tsukahara, Mai, Shimizu-Inatsugi, Rie, Shimizu, Kentaro K., Takayama, Seiji

Журнал:

Nature Plants

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.60 MB

english, 2015

A Flexible Scan-in Power Control Method in Logic BIST and Its Evaluation with TEG Chips

Kato, Takaaki, Wang, Senling, Sato, Yasuo, Kajihara, Seiji, Wen, Xiaoqing

Журнал:

IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.59 MB

english, 2017

[IEEE 2018 IEEE 27th Asian Test Symposium (ATS) - Hefei, China (2018.10.15-2018.10.18)] 2018 IEEE 27th Asian Test Symposium (ATS) - On Flip-Flop Selection for Multi-cycle Scan Test with Partial Observation in Logic BIST

Oshima, Shigeyuki, Kato, Takaaki, Wang, Senling, Sato, Yasuo, Kajihara, Seiji

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 520 KB

english, 2018

[IEEE 2019 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) - Tokyo, Japan (2019.9.3-2019.9.5)] 2019 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) - A Selection Method of Ring Oscillators for An On-Chip Digital Temperature And Voltage Sensor

Miyake, Yousuke, Sato, Yasuo, Kajihara, Seiji

Рік:

2019

Файл:

PDF, 782 KB

2019

A diagnosis method for single logic design errors in gate-level combinational circuits

Atsushi Yoshikawa, Seiji Kajihara, Masahiro Numa, Kozo Kinoshita

Журнал:

Systems and Computers in Japan

Рік:

1997

Файл:

PDF, 1.40 MB

1997

On invariant implication relations for removing partial circuits

Hideyuki Ichihara, Kozo Kinoshita, Seiji Kajihara

Журнал:

Systems and Computers in Japan

Рік:

1997

Файл:

PDF, 1011 KB

1997

BIST-oriented test pattern generator for detection of transition faults

Takeshi Asakawa, Kazuhiko Iwasaki, Seiji Kajihara

Журнал:

Systems and Computers in Japan

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 999 KB

english, 2003

Test cost reduction for logic circuits: Reduction of test data volume and test application time

Yoshinobu Higami, Seiji Kajihara, Hideyuki Ichihara, Yuzo Takamatsu

Журнал:

Systems and Computers in Japan

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 347 KB

english, 2005

Stuck-open faults test generation for cmos combinational circuits

Seiji Kajihara, Noriyoshi Itazaki, Kozo Kinoshita

Журнал:

Systems and Computers in Japan

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 716 KB

english, 1991

Removal of redundancy in combinational circuits under classification of undetectable faults

Seiji Kajihara, Kozo Kinoshita, Haruko Shiba

Журнал:

Systems and Computers in Japan

Рік:

1993

Мова:

english

Файл:

PDF, 723 KB

english, 1993

Partial scan design and test sequence generation based on reduced scan shift method

Yoshinobu Higami, Seiji Kajihara, Kozo Kinoshita

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 774 KB

english, 1995

Statistics on Deliveries of Mothers with Epilepsy at Yokohama City University Hospital

Seiji Endo, Hiroshi Hagimoto, Hiroshi Yamazawa, Satoshi Kajihara, Shinji Kubota, Atsushi Kamijo, Kaori Nakajima, Ryo Furusho, Toshiro Miyauchi, Masaya Endo

Журнал:

Epilepsia

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 62 KB

english, 2004

A quantitative assessment of serum chylomicron by light scattering intensity: Application to the intestinal fat absorption test

SUSUMU TAZUMA, HIROYUKI MIURA, NAOMICHI HIRANO, YOSHIHIRO HATTORI, TSUYOSHI KAJIHARA, DENYA TSUCHIMOTO, HIROAKI MIYAKE, TOMOJI NISHIOKA, HIDEYUKI HYOGO, SEIJI NAKAO, GUNJI YAMASHITA, GORO KAJIYAMA

Журнал:

Journal of Gastroenterology and Hepatology

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 802 KB

english, 1997

Synthesis of Sequential Circuits by Redundancy Removal and Retiming

Hiroyuki Yotsuyanagi, Seiji Kajihara, Kozo Kinoshita

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 136 KB

english, 1997

CaMKII phosphorylates serine 10 of p27 and confers apoptosis resistance to HeLa cells

Ryutaro Kajihara, Shota Fukushige, Norifumi Shioda, Kano Tanabe, Kohji Fukunaga, Seiji Inui

Журнал:

Biochemical and Biophysical Research Communications

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 467 KB

english, 2010

Measuring reduced cytochrome aa3 in cadaveric lungs using near-infrared spectroscopy

Seiji Okimasa, Toshio Noriyuki, Yoshihiro Miyata, Satoshi Shibata, Shinkichiro Yoshioka, Hiroki Kajihara, Toshimasa Asahara

Журнал:

The Journal of Heart and Lung Transplantation

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 658 KB

english, 2001

[IEEE 2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS) - Annecy, France (2012.05.28-2012.05.31)] 2012 17TH IEEE EUROPEAN TEST SYMPOSIUM (ETS) - On-chip temperature and voltage measurement for field testing

Miura, Yukiya, Sato, Yasuo, Miyake, Yousuke, Kajihara, Seiji

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 191 KB

english, 2012

CAVO-TRICUSPID ISTHMUS ABLATION BY NOVEL PHOTODYNAMIC LASER CATHETER IN SWINE HEART IN VIVO

Shunichiro Miyoshi, Arisa Itoh, Takuro Kajihara, Mizuki Ide, Hajime Suenari, Mei Takahashi, Takehiro Kimura, Kojiro Tanimoto, Kotaro Fukumoto, Seiji Takatsuki, Toshiaki Satoh, Yasuhiko Futami, Satoshi

Журнал:

Journal of the American College of Cardiology

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 153 KB

english, 2010

[IEEE 2011 IEEE/IFIP 41st International Conference on Dependable Systems and Networks Workshops (DSN-W) - Hong Kong, China (2011.06.27-2011.06.30)] 2011 IEEE/IFIP 41st International Conference on Dependable Systems and Networks Workshops (DSN-W) - Genetic algorithm based approach for segmented testing

Fan, Xiaoxin, Reddy, Sudhakar M, Wang, Senling, Kajihara, Seiji, Sato, Yasuo

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.13 MB

english, 2011

[IEEE 2012 21st Asian Test Symposium (ATS) - Niigata, Japan (2012.11.19-2012.11.22)] 2012 IEEE 21st Asian Test Symposium - Low Power BIST for Scan-Shift and Capture Power

Sato, Yasuo, Wang, Senling, Kato, Takaaki, Miyase, Kohei, Kajihara, Seiji

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 238 KB

english, 2012

[IEEE 2012 21st Asian Test Symposium (ATS) - Niigata, Japan (2012.11.19-2012.11.22)] 2012 IEEE 21st Asian Test Symposium - A Scan-Out Power Reduction Method for Multi-cycle BIST

Wang, Senling, Sato, Yasuo, Miyase, Kohei, Kajihara, Seiji

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 724 KB

english, 2012

[IEEE 2011 International Symposium on Low Power Electronics and Design (ISLPED) - Fukuoka, Japan (2011.08.1-2011.08.3)] IEEE/ACM International Symposium on Low Power Electronics and Design - SAT-based capture-power reduction for at-speed broadcast-scan-based test compression architectures

Kochte, Michael A., Miyase, Kohei, Wen, Xiaoqing, Kajihara, Seiji, Yamato, Yuta, Enokimoto, Kazunan, Wunderlich, Hans-Joachim

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 420 KB

english, 2011

[IEEE 2009 15th IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC) - Shanghai, China (2009.11.16-2009.11.18)] 2009 15th IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing - A GA-Based Method for High-Quality X-Filling to Reduce Launch Switching Activity in At-speed Scan Testing

Yamato, Yuta, Wen, Xiaoqing, Miyase, Kohei, Furukawa, Hiroshi, Kajihara, Seiji

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 192 KB

english, 2009

[IEEE 2012 IEEE International Test Conference (ITC) - Anaheim, CA, USA (2012.11.5-2012.11.8)] 2012 IEEE International Test Conference - DART: Dependable VLSI test architecture and its implementation

Sato, Yasuo, Kajihara, Seiji, Yoneda, Tomokazu, Hatayama, Kazumi, Inoue, Michiko, Miura, Yukiya, Untake, Satosni, Hasegawa, Takumi, Sato, Motoyuki, Shimamura, Kotaro

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 986 KB

english, 2012

Fusions between dendritic cells and whole tumor cells as anticancer vaccines

Koido, Shigeo, Homma, Sadamu, Okamoto, Masato, Namiki, Yoshihisa, Takakura, Kazuki, Uchiyama, Kan, Kajihara, Mikio, Arihiro, Seiji, Imazu, Hiroo, Arakawa, Hiroshi, Kan, Shin, Komita, Hideo, Ito, Masak

Журнал:

OncoImmunology

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 580 KB

english, 2013

[ACM Press the 2006 conference - Yokohama, Japan (2006.01.24-2006.01.27)] Proceedings of the 2006 conference on Asia South Pacific design automation - ASP-DAC '06 - A dynamic test compaction procedure for high-quality path delay testing

Fukunaga, Masayasu, Kajihara, Seiji, Wen, Xiaoqing, Maeda, Toshiyuki, Hamada, Shuji, Sato, Yasuo

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 214 KB

english, 2006

[ACM Press the 42nd annual conference - San Diego, California, USA (2005.06.13-2005.06.17)] Proceedings of the 42nd annual conference on Design automation - DAC '05 - Path delay test compaction with process variation tolerance

Kajihara, Seiji, Fukunaga, Masayasu, Wen, Xiaoqing, Maeda, Toshiyuki, Hamada, Shuji, Sato, Yasuo

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 288 KB

english, 2005

[IEEE 2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2010) - Corfu, Greece (2010.07.5-2010.07.7)] 2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium - Aging test strategy and adaptive test scheduling for SoC failure prediction

Yi, Hyunbean, Yoneda, Tomokazu, Inoue, Michiko, Sato, Yasuo, Kajihara, Seiji, Fujiwara, Hideo

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 265 KB

english, 2010

W1141 Predictive Value of FDG PET/CT for Malignant Potential of Gastrointestinal Stromal Tumors

Kogame, Masahiro, Hiraoka, Atsushi, Kawaguchi, Naoto, Kajihara, Makoto, Murakami, Tadashi, Yamashita, Kyo, Ishimaru, Yoshihiro, Matsuki, Hirokazu, Sogabe, Ichiro, Kikuchi, Takanori, Nakamura, Seiji, M

Журнал:

Gastroenterology

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 44 KB

english, 2010

Comparative Study of the Primary Structures of Cytochrome b5from Four Species

Akira Tsugita, Midori Kobayashi, Seiji Tani, Sukei Kyo, M. A. Rashid, Yukuo Yoshida, Toshimasa Kajihara and Bunji Hagihara

Журнал:

Proceedings of the National Academy of Sciences

Рік:

1970

Мова:

english

Файл:

PDF, 677 KB

english, 1970

[IEEE 2011 IEEE International Test Conference (ITC) - Anaheim, CA, USA (2011.09.20-2011.09.22)] 2011 IEEE International Test Conference - A novel scan segmentation design method for avoiding shift timing failure in scan testing

Yamato, Yuta, Wen, Xiaoqing, Kochte, Michael A., Miyase, Kohei, Kajihara, Seiji, Wang, Laung-Terng

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.08 MB

english, 2011

[IEEE 2006 International Conference on Computer Design - San Jose, CA, USA (2007.10.1-2007.10.4)] 2006 International Conference on Computer Design - A Highly-Guided X-Filling Method for Effective Low-Capture-Power Scan Test Generation

Wen, Xiaoqing, Miyase, Kohei, Suzuki, Tatsuya, Yamato, Yuta, Kajihara, Seiji, Wang, Laung-Terng, Saluja, Kewal K.

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 452 KB

english, 2006

[IEEE 2008 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) - San Jose, CA, USA (2008.11.10-2008.11.13)] 2008 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design - Effective IR-drop reduction in at-speed scan testing using distribution-controlling X-Identification

Miyase, Kohei, Kenji Noda,, Hideaki Ito,, Kazumi Hatayama,, Takashi Aikyo,, Yuta Yamato,, Hiroshi Furukawa,, Xiaoqing Wen,, Seiji Kajihara,

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 844 KB

english, 2008

[IEEE 2011 IEEE 20th Asian Test Symposium (ATS) - New Delhi, India (2011.11.20-2011.11.23)] 2011 Asian Test Symposium - Multi-cycle Test with Partial Observation on Scan-Based BIST Structure

Sato, Yasuo, Yamaguchi, Hisato, Matsuzono, Makoto, Kajihara, Seiji

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 284 KB

english, 2011

[IEEE 2010 15th IEEE European Test Symposium (ETS) - Praha, Czech Republic (2010.05.24-2010.05.28)] 2010 15th IEEE European Test Symposium - On estimation of NBTI-Induced delay degradation

Noda, Mitsumasa, Kajihara, Seiji, Sato, Yasuo, Miyase, Kohei, Wen, Xiaoqing, Miura, Yukiya

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 282 KB

english, 2010

[IEEE 2008 11th International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) - Bratislava, Slovakia (2008.04.16-2008.04.18)] 2008 11th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - Diagnosis of Realistic Defects Based on the X-Fault Model

Polian, Ilia, Nakamura, Yusuke, Engelke, Piet, Spinner, Stefan, Miyase, Kohei, Kajihara, Seiji, Becker, Bernd, Wen, Xiaoqing

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 470 KB

english, 2008

[IEEE 2006 IEEE International Test Conference - Santa Clara, CA, USA (2006.10.22-2006.10.27)] 2006 IEEE International Test Conference - A Framework of High-quality Transition Fault ATPG for Scan Circuits

Kajihara, Seiji, Morishima, Shohei, Takuma, Akane, Wen, Xiaoqing, Maeda, Toshiyuki, Hamada, Shuji, Sato, Yasuo

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 6.15 MB

english, 2006

[IEEE 2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium (VTS) - Maui, HI, USA (2012.04.23-2012.04.25)] 2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium (VTS) - A novel capture-safety checking method for multi-clock designs and accuracy evaluation with delay capture circuits

Miyase, Kohei, Aso, Masao, Ootsuka, Ryou, Wen, Xiaoqing, Furukawa, Hiroshi, Yamato, Yuta, Enokimoto, Kazunari, Kajihara, Seiji

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.32 MB

english, 2012

[IEEE 2007 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design - San Jose, CA, USA (2007.11.4-2007.11.8)] 2007 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design - Estimation of delay test quality and its application to test generation

Seiji Kajihara,, Shohei Morishima,, Masahiro Yamamoto,, Xiaoqing Wen,, Masayasu Fukunaga,, Kazumi Hatayama,, Takashi Aikyo,

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 947 KB

english, 2007

[IEEE 2013 22nd Asian Test Symposium (ATS) - Yilan County, Taiwan (2013.11.18-2013.11.21)] 2013 22nd Asian Test Symposium - Search Space Reduction for Low-Power Test Generation

Miyase, Kohei, Sauer, Matthias, Becker, Berund, Wen, Xiaoqing, Kajihara, Seiji

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 381 KB

english, 2013

[IEEE ICCAD 2004. International Conference on Computer Aided Design - San Jose, CA, USA (7-11 Nov. 2004)] IEEE/ACM International Conference on Computer Aided Design, 2004. ICCAD-2004. - On per-test fault diagnosis using the X-fault model

Xiaoqing Wen,, Tokiharu Miyoshi,, Seiji Kajihara,, Laung-Terng Wang,, Saluja, K.K., Kinoshita, K.

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 616 KB

english, 2004

[IEEE 2007 IEEE International Test Conference - Santa Clara, CA, USA (2007.10.21-2007.10.26)] 2007 IEEE International Test Conference - A novel scheme to reduce power supply noise for high-quality at-speed scan testing

Xiaoqing Wen,, Kohei Miyase,, Seiji Kajihara,, Tatsuya Suzuki,, Yuta Yamato,, Girard, Patrick, Yuji Ohsumi,, Laung-Terng Wang,

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 415 KB

english, 2007

[IEEE 2009 IEEE 8th International Conference on ASIC (ASICON) - Changsha, Hunan, China (2009.10.20-2009.10.23)] 2009 IEEE 8th International Conference on ASIC - A circuit failure prediction mechanism (DART) for high field reliability

Sato, Yasuo, Kajihara, Seiji, Miura, Yukiya, Yoneda, Tomokazu, Ohtake, Satoshi, Inoue, Michiko, Fujiwara, Hideo

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 6.87 MB

english, 2009

On test data volume reduction for multiple scan chain designs

Reddy, Sudhakar M., Miyase, Kohei, Kajihara, Seiji, Pomeranz, Irith

Журнал:

ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 101 KB

english, 2003

[IEEE 2009 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT) - Hsinchu, Taiwan (2009.04.28-2009.04.30)] 2009 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test - On calculation of delay range in fault simulation for test cubes

Kajihara, Seiji, Oku, Shinji, Miyase, Kohei, Wen, Xiaoqing, Sato, Yasuo

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 239 KB

english, 2009

LCTI–SS: Low-Clock-Tree-Impact Scan Segmentation for Avoiding Shift Timing Failures in Scan Testing

Yamato, Yuta, Miyase, Kohei, Kajihara, Seiji, Xiaoqing Wen,, Laung-Terng Wang,, Kochte, Michael A.

Журнал:

IEEE Design and Test

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 907 KB

english, 2013

New insights into the pathophysiology of endometriosis: from chronic inflammation to danger signal

Kajihara, Hirotaka, Yamada, Yoshihiko, Kanayama, Seiji, Furukawa, Naoto, Noguchi, Taketoshi, Haruta, Shoji, Yoshida, Shozo, Sado, Toshiyuki, Oi, Hidekazu, Kobayashi, Hiroshi

Журнал:

Gynecological Endocrinology

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 408 KB

english, 2011